Λειτουργικό σύστημα:Λειτουργικό σύστημα Windows CE 6.0, ασφαλές και αξιόπιστο
Φίλτρο:Εξοπλισμένο με 8 φίλτρα που μπορούν να αλλάξουν αυτόματα με βάση τα στοιχεία δοκιμής
Μέθοδος δοκιμής:Μέθοδος βασικής παραμέτρου, που υποστηρίζει τη διόρθωση της μεθόδου εμπειρικού συντελεστή
Λειτουργικό σύστημα:Λειτουργικό σύστημα Windows CE 6.0, ασφαλές και αξιόπιστο
Φίλτρο:Εξοπλισμένο με 8 φίλτρα που μπορούν να αλλάξουν αυτόματα με βάση τα στοιχεία δοκιμής
Μέθοδος δοκιμής:Μέθοδος βασικής παραμέτρου, που υποστηρίζει τη διόρθωση της μεθόδου εμπειρικού συντελεστή
Μητρώο ανάλυσης:Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb κλπ.
Εύρος μηκών κύματος:160~580nm
Ανιχνευτής:Σύνολο CMOS υψηλής απόδοσης
Μητρώο ανάλυσης:Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb κλπ.
Εύρος μηκών κύματος:160~580nm
Ανιχνευτής:Σύνολο CMOS υψηλής απόδοσης
Εύρος ζώνης:0.5~10
Κέρδος:0~110
Εύρος ανίχνευσης:Εύρος σάρωσης (mm): 0-1000
Εύρος ανίχνευσης:0 έως 15μ
εύρη κέρδους:0 έως 120dB
Περιθώριο ευαισθησίας:>65dB
Εύρος ανίχνευσης:0 έως 15μ
εύρη κέρδους:0 έως 120dB
Περιθώριο ευαισθησίας:>65dB
Πεδίο δοκιμής σκληρότητας:8~2900HV
Μέθοδος δοκιμής εφαρμογής δύναμης:Αυτόματη (φόρτωση, συγκράτηση, εκφόρτωση)
Ενίσχυση μικροσκοπίων δοκιμής:400X ((Μέτρηση), 100X ((παρατήρηση)
Πεδίο δοκιμής σκληρότητας:8~2900HV
Μέθοδος δοκιμής εφαρμογής δύναμης:Αυτόματη (φόρτωση, συγκράτηση, εκφόρτωση)
Ενίσχυση μικροσκοπίων δοκιμής:400X ((Μέτρηση), 100X ((παρατήρηση)
Κλίμακα μετατροπής:Επιδονετικό Rockwell, Brinell, Vickers
Χρόνος διαμονής:2-60
Συνολικό φορτίο του Rockwell:60kgf (588N) 100kgf (980N) 150kgf (1471N)
Κλίμακα μετατροπής:Επιδονετικό Rockwell, Brinell, Vickers
Χρόνος διαμονής:2-60
Συνολικό φορτίο του Rockwell:60kgf (588N) 100kgf (980N) 150kgf (1471N)
Μέγιστο ύψος δείγματος:200 χλστ
Απόσταση Indenter στον εξωτερικό τοίχο:155 mm
Τροφοδοτικό:AC220+5%, 50 ~ 60Hz