ΚΙΝΑ μη καταστρεπτικός εξοπλισμός δοκιμής

• 

  Έγχρωμη οθόνη LCD γραφικών 22 παραμέτρων, ελεγκτής τραχύτητας επιφάνειας με οθόνη αφής TFT

  Άξονας Z (κατακόρυφη) Περιοχή μέτρησης:±80μm/±160 μm (βελτιωμένο μοντέλο)

  Άξονας Χ (Διατολική) Περιοχή μέτρησης:20 χιλιοστά

  Εικόνα, καμπύλη περιοχής ρουφού, προφίλ τραχύτητας, πρωταρχικό προφίλ:Διάδρομο της επιφάνειας ρυμουλκούμενου, Προφίλ τραχύτητας, Προφίλ πρωτογενούς

  Επικοινωνήστε
• 

  Φορητός δοκιμαστής τραχύτητας επιφάνειας 14 παραμέτρους με 128 x 64 OLED Dot Matrix Display Spectrogram

  Όνομα προϊόντος:Ελεγκτής τραχύτητας επιφάνειας

  Μοντέλο:Srt-6600

  Οθόνη προβολής:128 x 64 OLED

  Επικοινωνήστε
• 

  Τσέκα οθόνη αφής φορητός δοκιμαστής τραχύτητας επιφάνειας

  Πιστοποίηση:CE

  Μονάδα μέτρησης:Um/uin

  Ψήφισμα:0.01um

  Επικοινωνήστε
• 

  TG1956 Ψηφιακός μετρητής πάχους επικάλυψης 0~1300um F&NF Αυτοαπογνώριση ανιχνευτών

  Σειρά:0~1300um 0~51.2mil

  Ακρίβεια:±2,5%+1μm) ±2,5%+0,04mil)

  Ψήφισμα:0.1um/0.01mil

  Επικοινωνήστε
• 

  Μετρητής πάχους επίστρωσης TG1956 υψηλής ακρίβειας με λειτουργία βαθμονόμησης 5 σημείων

  Σειρά:0~1300um 0~51.2mil

  Ακρίβεια:±2,5%+1μm) ±2,5%+0,04mil)

  Ψήφισμα:0.1um/0.01mil

  Επικοινωνήστε
• 

  136° Εισαγωγέας Διαμαντιού Vickers Υπερηχητικός Μετρητής Σκληρότητας Μηχανοκίνητη Κεφαλή

  Υλικό:ABS

  οθόνη:οθόνη υγρού κρυστάλλου

  Κλίμακα:HV、HB、HRC, HLD

  Επικοινωνήστε
• 

  Μικροσκόπιο χάλυβα πεδίου HM-20D με μαγνητική βάση για την επιθεώρηση πετροχημικών, σιδηροδρομικών και ναυπηγικών εγκαταστάσεων

  Μεγέθυνση:100Χ, 125Χ, 400Χ, 500Χ

  Αντικειμενικός φακός:Standard 10X, 40X, ένα το καθένα (προαιρετικά 20X,80X)

  Προσοφθάλμιο:10Χ, 12,5Χ 1 το καθένα

  Επικοινωνήστε
• 

  HSC-500 Portátil Microscopio Metalúrgico Iluminación Vertical para Piezas Grandes

  Προσοφθάλμιο:WF10X/ф6

  Στόχος:10X, 20X, 50X

  Συνολική ενίσχυση:100X-500X

  Επικοινωνήστε
• 

  Επαγγελματικό Τρινόκηλο Αντιστρέψιμο Μεταλλουργικό Μικροσκόπιο HM-41X με Σύστημα Ανάλυσης Εικόνας

  Πηγή φωτός:Αντανακλαστικό σύστημα φωτισμού Cora (12V50W λαμπτήρα αλογονίου) με ρυθμιζόμενη φωτεινότητα

  εύρος ρύθμισης της διαδρόμου μεταξύ των μαθητών:54-75 χιλιοστά

  ακρίβεια διορθώσεως:00,002 mm

  Επικοινωνήστε
• 

  Αντεστραμμένο Μεταλλογραφικό Μικροσκόπιο HM-41X με Ημι-αχρωματικό Αντικειμενικό για Ανάλυση Υλικών

  Πηγή φωτός:Αντανακλαστικό σύστημα φωτισμού Cora (12V50W λαμπτήρα αλογονίου) με ρυθμιζόμενη φωτεινότητα

  εύρος ρύθμισης της διαδρόμου μεταξύ των μαθητών:54-75 χιλιοστά

  ακρίβεια διορθώσεως:00,002 mm

  Επικοινωνήστε
• 

  Μικροσκόπιο Stereo HSM-645S Υψηλής Ανάλυσης με Ψηφιακή Κάμερα για Εργαστηριακές Μετρήσεις

  Απόσταση εργασίας:115mm

  Αλλάζοντας καιρούς από:6.3:1.

  Στόχος αλλαγής χρόνων:0.8~5X ((συνολική ενίσχυση 8~50X) (προαιρετική έως 4~100X)

  Επικοινωνήστε
• 

  Ενιαίο HI-LO Δοκιμαστή αγωγών συγκόλλησης μετρικού ιντσίου διπλής κλίμακας

  Σειρά:Διάκενο ρίζας: 0–8 mm Λανθασμένη ευθυγράμμιση (HI-LO): 0–6 mm

  Υλικό:Ανοξείδωτο ατσάλι

  Κλίμακα:Μετρική και διπλή κλίμακα ιντσών

  Επικοινωνήστε