SRT-5100S High Precision Surface Profile Gauge Metric Imperial Conversion Average Calculation for Blasted Surface Testing

Παράμετροι (μm): RA, Rz, Rq, Rt

Διάστημα διασταύρωσης (mm): 6

Διάστημα δειγματοληψίας (mm): 0.250, 0.80, 2.50

Διάρκεια αξιολόγησης (mm): 1.25, 4.0, 5.0

Παράμετροι (μm): RA, Rz, Rq, Rt

Διάστημα διασταύρωσης (mm): 6

Διάστημα δειγματοληψίας (mm): 0.250, 0.80, 2.50

Διάρκεια αξιολόγησης (mm): 1.25, 4.0, 5.0

Σειρά: 0 μm σε 800 μm (0 mils 30 mils)

Ακρίβεια: ± 5% ή ± 5 μm, ανάλογα με το ποιο είναι το μεγαλύτερο

Ψήφισμα: 1 μm (0,1 mils)

Ταχύτητα μέτρησης: > 30 (άριθμα ανά λεπτό)

Επίδειξη: οθόνη υγρού κρυστάλλου

Σειρά: 0 ~ 800 ɥm/29.5 mils

Ακρίβεια: ±5%or±5ɥm, (οποιοσδήποτε είναι ο μεγαλύτερος)

Ψήφισμα: 0.1ɥm/1ɥm

Ευαισθησία: Η τυποποιημένη δοκιμαστική ταινία τύπου Α1 15/100 αυλακώσεις εμφανίζονται καθαρά, καλύτερα από το εθ

Ανυψωτική δύναμη: ΔΕ ≥ 68,6N (7kg)

Απόσταση από τον στύλο του ανιχνευτή: 60 mm-205 mm (το εύρος διαστήματος είναι ρυθμιζόμενο)

Πηγή φωτός ανιχνευτή: φωτεινότητα του λευκού φωτός ≥2000Lux· ακτινοβολία της λάμπας UV ≥5000μw/cm2