|
Λεπτομέρειες:
|
| Σειρά των μετρημένων στοιχείων: | από το νάτριο (NA) στο ουράνιο (U) | Μέτρηση του διαστήματος συγκέντρωσης: | PPM -- 99.99% (διαφορετικά στοιχεία, διαφορετική σειρά ανάλυσης) |
|---|---|---|---|
| Κράτος αντικειμένου μέτρησης: | σκόνη, στερεό, υγρό | Η καλύτερη ανάλυση: | 129eV±5eV |
| Υψηλό φως: | ndt μη καταστροφικός εξοπλισμός δοκιμών,επιτραπέζιος μη καταστροφικός εξοπλισμός δοκιμών |
||
HXRF-650JP Αναλυτής στοιχείων σπάνιων γαιών
Εισαγωγή προϊόντος
Ο αναλυτής φθορισμού ακτίνων Χ τύπου HXRF-650JP είναι ένα αναλυτικό όργανο υψηλής τεχνολογίας σχεδιασμένο για μη σιδηρούχα μέταλλα, σιδηρούχα μέταλλα, επεξεργασία και τήξη ορυκτών και γεωλογικές βιομηχανίες.
Εφαρμογή προϊόντος
Το φασματόμετρο HXRF-650JP μπορεί να αναλύσει τα ακόλουθα δείγματα και στοιχεία (οξείδια):
| Τύπος δείγματος | Κατηγορία στοιχείων |
| Μεταλλεύμα πυροσυσσωμάτωσης/σφαιριδίων | TFe,Si,Ca,Mg,Al,Mn,Ti,P,S,K,V κ.λπ. |
| Σκωρία υψικαμίνου/σκωρία μετατροπέα | TFe,Si,Ca,Mg,Al,Mn,Ti,P,S,K,V κ.λπ. |
| Διύλιση σκωρίας | Al, Ca, Si, Mg, Fe, Ti κ.λπ. |
| Προλιωμένη σκωρία | Ca, Mg, Al, Si, Fe, P, S κ.λπ. |
| αργιλικό ασβέστιο | Si, Al, Fe, Ca, Mg κ.λπ. |
| Φερρίτης ασβεστίου | Fe,Al,Ca,Si,S,P κ.λπ. |
| Πλούσια σε μαγγάνιο σκωρία | Mn, Fe, P, S, Si, Al, Ca κ.λπ. |
| Σκόνη συμπυκνώματος σιδήρου/σιδηρομετάλλευμα | TFe,Si,Ca,Mg,Al,Mn,Ti,P,S,K,V κ.λπ. |
| Αιματίτης/μαγνητίτης | TFe,K,Na,S,P,Al,Si,Mg,Ca,Mn,Zn,Cu,Ti κ.λπ. |
| Μεταλλεύμα μολύβδου-ψευδαργύρου | Pb,Zn,Ag,Cu,Sn,Fe,S,Cd,Mo,As κ.λπ. |
| Μεταλλεύμα μαγγανίου | Mn,Si,P,S,Al,Ti,K,Zn,Ca,Mg κ.λπ. |
| τιτανίτης | Ti,Mn,Fe,Si,P,S,Al,K,Zn,Ca,V,Cu,Mg κ.λπ. |
| ορυχείο χαλκού | Mn,Fe,S,Cu,Pb,As,Au,Cd,Zn,Ag,Mg κ.λπ. |
| χρωμίτης | Fe,P,S,Al,Cr,Ca,Mg,Si κ.λπ. |
| πυρίμαχος |
Πηλός με υψηλή περιεκτικότητα σε πυρίτιο Si,Al,Fe,Ca,Mg,K,Na,S,P κ.λπ. Αλουμίνα υψηλής αλουμίνας Al,Fe,Ti,Na,K,Mn,Ca,Mg,Si,P κ.λπ. Μαγνησία υψηλής μαγνησίας Mg, Ca, Si, Al, Fe κ.λπ. |
| κορούνδιο |
Λευκό κορούνδιο Al,Na,Si,Ca,Fe κ.λπ. Καφέ κορούνδιο Al, Si, Ti, Fe κ.λπ. Μαύρο κορούνδιο Al, Si, Ti, Fe κ.λπ. Χρωμικό κορούνδιο Al,Na,Cr,Fe κ.λπ. Ζιρκόνιο κορούνδιο Zr,Si,Al,Na,Fe,Ti,Ca,Mg,K κ.λπ. |
| Ακατέργαστο τσιμέντο/κλίνκερ | Si,Al,Fe,Ca,Mg,K,Na,S,Cl- κ.λπ. |
| ασβεστόλιθος | S,P,Al,Si,Fe,Ti,Mn,Sr,Ca,Mg κ.λπ. |
| δολομίτης λίθος | S,P,Al,Si,K,Na,Fe,Ti,Mn,Sr,Ca,Mg κ.λπ. |
| βολλαστονίτης | Si, Ca, Fe, Al, Ti, Mg κ.λπ. |
| οφιοειδής | Mg,Si,K,Na,Ca,Fe,Ti,Mn,Al,S,P κ.λπ. |
| mullite | Al,Si,Fe,Ti,Ca,Mg,K,Na κ.λπ. |
| Σπινέλιο αλουμίνας Μαγνησίας | Al,Mg,Ca,Si,Na,Fe κ.λπ. |
| φθορίτης | Ca,P,S,Si,Al,Fe,Mg,Ti,Mn,K,Na κ.λπ. |
| Γάνγκας άνθρακα | Si, Al, Fe, Ca, Mg, Ti, P, V κ.λπ. |
| Χαλαζιακή άμμος | Zr,Si,Fe,P,S,Al,Ti κ.λπ. |
| ρουτίλιο | Ti,S,P,Fe,Nb,Ta,Cr,Sn κ.λπ. |
| λυχνίτης | Ca, Mg, Fe, Mn, Al, Cr κ.λπ. |
| Ακατέργαστος σίδηρος | Si, Mn, P, S, Ti, Cr, V κ.λπ. |
| Χυτοσίδηρος με υψηλή περιεκτικότητα σε μαγγάνιο | Fe, Mn, P, S, Si, Cr κ.λπ. |
| Κράμα σιδηροπυριτίου | Al,Si,Ca,Na,Mg,P,S,Fe,Cr,Mn,Cu,Ba κ.λπ. |
| Κράμα πυριτίου μαγγανίου | Mn, P, S, Si κ.λπ. |
| Κράμα πυριτίου-ζιρκόνιου | Si, Ca, Al, Ba, ZR, Mn κ.λπ. |
| Βάριο ασβέστιο | Si, Al, Ba, Ca κ.λπ. |
| Βάριο πυρίτιο ασβέστιο/ασβέστιο πυρίτιο/πυρίτιο βάριο | Si,Ba,Ca,Ba,Fe κ.λπ. |
| Σίδηρος νικελίου | Ni,Mn,Si,Cu,Co,Cr,V,S,P κ.λπ. |
| Βανάδιο σιδήρου | V,Mn,Si,P,S κ.λπ. |
| σιδηροχρώμιο | Cr,Si,P,S,V,Fe,Mn,Ti κ.λπ. |
| σιδηρομαγγάνιο | Mn,Si,P,S,Cr,Ni,V,Fe κ.λπ. |
| Νιόβιο σιδήρου | Nb,Al,Si,S,P κ.λπ. |
| Μόλυβδος τήξης | Pb,Sb,Sn,Bi,Fe,Si,Ca,S κ.λπ. |
| Ηλεκτρολυτικό μαγγάνιο | Mn, S, P κ.λπ. |
| Σκωρία κασσίτερου | Sn, Fe, Si, Ca κ.λπ. |
| Σκωρία βαναδίου | V,Mn,Cr,Ti,Ca,Si κ.λπ. |
| ποτήρι | Si,Al,Fe,Ca,Mg,K,Na κ.λπ. |
| Ιπτάμενη τέφρα (θερμοηλεκτρικός σταθμός) | Si,Al,Fe,Ca,Ti,Mg,K,Na,S,Mn κ.λπ. |
| Σφαιροειδής παράγοντας (κράμα πυριτίου μαγνησίου σπανίων γαιών) | Mg, RE, Si, Ca, Al κ.λπ. |
| εμβόλιο | Si, Ba, Ca, Al κ.λπ. |
| Πράκτορας ερπυσμού | Mg ,Re ,Ca ,Si ,Al κ.λπ. |
| Πράκτορας κάλυψης | Ca, Si, Mg, Al, Fe κ.λπ. |
| Σκόνη καλουπιού σωλήνα | Si, Ca, Al, Ba, ZR, Mn κ.λπ. |
| Αφαίρεση σκωρίας | Ca, Si, Al κ.λπ. |
| Πυροσυσσωματωμένη ροή | Si, Ti, Ca, Mg, Al, Mn, S, P κ.λπ. |
| Μπρεζ σκόνη | Ti,Zr,Ni,Cu,Ag,Zn,Sn,Si,Mn,Ni,Cr,P κ.λπ. |
| αλουμίνα | Si, Fe, Ca, Mg κ.λπ. |
| Βιομηχανικό πυρίτιο | Al,Ca,Fe,Ti,Mn,Ni κ.λπ. |
| SCR καταλύτης απονιτροποίησης | Ca,Na,K,As,W,V κ.λπ. |
| Βαρέα μέταλλα στο έδαφος | Pb,As,Cd,Hg,Cu,Ni,Zn,Cr κ.λπ. |
Τεχνικές προδιαγραφές
Εύρος μετρούμενων στοιχείων: από νάτριο (Na) έως ουράνιο (U)
Εύρος συγκέντρωσης μέτρησης: ppm -- 99,99% (διαφορετικά στοιχεία, διαφορετικό εύρος ανάλυσης)
Κατάσταση αντικειμένου μέτρησης: σκόνη, στερεό, υγρό
Δυνατότητα ανάλυσης στοιχείων: Δεκάδες στοιχεία από νάτριο (Na) έως ουράνιο (U) μπορούν να μετρηθούν ταυτόχρονα
Καλύτερη ανάλυση: 129eV±5eV
Βέλτιστη ακρίβεια ανάλυσης: RSD≤0,1% (εθνικό πρότυπο δείγμα)
Χρόνος ανάλυσης: Ο χρόνος μονής δοκιμής είναι ρυθμιζόμενος
Λειτουργία ψύξης: ηλεκτρική ψύξη, χωρίς αναλώσιμα
Μεγάλο μέγεθος κοιλότητας δείγματος: 400mm x 340mm x 80mm
Μέγεθος θαλάμου δείγματος κενού: φ100mm×h75mm
Μέγεθος εμφάνισης: 700mmx510mmx336mm
Τροφοδοτικό λειτουργίας: AC 220V ±5V, 50Hz
Περιβάλλον εργασίας: εσωτερική θερμοκρασία 15 ~ 30℃;Σχετική υγρασία ≤80% (χωρίς συμπύκνωση)
Βάρος μηχανής: 56KG
Πχαρακτηριστικά απόδοσης
Αποδοτικότητα ανάλυσης: Υψηλή ταχύτητα, υψηλή ακρίβεια και υψηλή απόδοση.Το λογισμικό ανάλυσης που έχει αναπτυχθεί μόνος του μπορεί να ολοκληρώσει ταυτόχρονα τη σύγχρονη και ακριβή ανάλυση δεκάδων στοιχείων από 11 νάτριο (Na) έως 92 ουράνιο (U) μέσα σε 1-120 δευτερόλεπτα
Λειτουργικά πλεονεκτήματα:
1. Σχέδιο εμφάνισης: γενναιόδωρος και όμορφος, ανθεκτικός, πολλαπλός τρόπος προστασίας ασφάλειας.
2. Σύστημα φίλτρου παραλληλισμού: φίλτρο πολλαπλών συνδυασμών + φίλτρο, αυτόματος διακόπτης λογισμικού, πληρούν μια ποικιλία εφαρμογών δοκιμής.
3. Το σύστημα επεξεργασίας σήματος SES (ψηφιακό πολυκάναλο) που αναπτύχθηκε ανεξάρτητα υιοθετείται για να βελτιώσει αποτελεσματικά την αναλογία κορυφής προς την πλάτη και να κάνει τη μέτρηση πιο ακριβή.
4. Πολυδιάστατο σύστημα απαγωγής θερμότητας: Βελτιστοποιήστε τον ενσωματωμένο σχεδιασμό απαγωγής θερμότητας για να βελτιώσετε την απόδοση απαγωγής θερμότητας ολόκληρου του μηχανήματος και να εξασφαλίσετε την ασφάλεια λειτουργίας της πηγής ακτίνων Χ
5. Σύστημα ασφάλειας ακτινοβολίας: πολλαπλός σχεδιασμός διαρροής κατά της ακτινοβολίας, το επίπεδο προστασίας από ακτινοβολία ανήκει στο υψηλότερο από παρόμοια προϊόντα
6. Σύστημα κενού: Επιλέξτε το σύστημα κενού, βελτιστοποιήστε το περιβάλλον δοκιμής, βελτιώστε την ακρίβεια ανάλυσης μαγνησίου, αλουμινίου, πυριτίου, φωσφόρου, θείου και άλλων ελαφρών στοιχείων
7. Η μοναδική τεχνολογία παρακολούθησης της θερμοκρασίας κίνησης διασφαλίζει την ασφαλή και αξιόπιστη λειτουργία της πηγής ακτίνων, παρατείνει αποτελεσματικά τη διάρκεια ζωής της και μειώνει το κόστος χρήσης
Πλεονέκτημα υλικού: Εισάγεται ολόκληρο το σύνολο των βασικών στοιχείων
1. Ανιχνευτής: Ο αρχικός ανιχνευτής Amptek silicon drift SDD από τις Ηνωμένες Πολιτείες, με τη χαμηλότερη ανάλυση 129eV±5eV, εξαιρετική ενεργειακή γραμμικότητα και ενεργειακή ανάλυση, αναλογία κορυφής προς τα πίσω.
2. Σωλήνας ακτίνων Χ: μέγιστη ισχύς 50W, τάση σωλήνα 5-50KV, ρεύμα σωλήνα 0-1000uA.Σωλήνα ακτίνων Χ μεγάλης διάρκειας ζωής.
3. Τροφοδοτικό υψηλής τάσης: μέγιστη ισχύς 50 W, τάση 0-50 KV, ρεύμα 0-1000uA.Σταθερότητα 8 ωρών ≤0,05%.
4. Επεξεργαστής σήματος: Υιοθετήστε τον εισαγόμενο επεξεργαστή σήματος, προσαρμοστείτε σε υψηλή ανάλυση και υψηλό ρυθμό καταμέτρησης, μεγέθυνση αυτοσυντονισμού, μέγιστος αριθμός: 4096.
Πλεονέκτημα λογισμικού:Η κινεζική έκδοση του λογισμικού ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ που αναπτύχθηκε από κοινού από τη Danaher και την εταιρεία μας, η οποία ενσωματώνει εμπειρική μέθοδο συντελεστή, θεωρητική μέθοδο συντελεστή α, γραμμική προσαρμογή, τετραγωνική καμπύλη, διόρθωση αντοχής, διόρθωση περιεχομένου και άλλες μεθόδους ανάλυσης για να εξασφαλίσει πλήρως την ακρίβεια της δοκιμής δεδομένα.
Διαμόρφωση οργάνου
Τυπική διαμόρφωση συστήματος:
1. Ψηφιακός πολυκαναλικός ανιχνευτής SDD
2. Πηγές ακτίνων Χ
3. Τροφοδοτικό υψηλής τάσης
4. Σύστημα ηλεκτρονικού κυκλώματος αναλογίας φύλου προς θόρυβο
5. Σύστημα βελτίωσης οπτικής διαδρομής
6. 8 παραμόρφωση +5 φίλτρο
7. Ψηφιακός πολυκαναλικός αναλυτής
8. Σύστημα άντλησης κενού
9. Επώνυμοι εκτυπωτές inkjet
10. Επώνυμοι υπολογιστές
11. Λογισμικό ανάλυσης πλήρους στοιχείου φθορισμού Χ
12. Κύπελλο δείγματος και θρυαλλίδα
13. Ελεγχόμενη παροχή ρεύματος για φάσμα (προαιρετικό)
Επιλογή συστήματος:
1. Ειδική μηχανή λείανσης για το φάσμα (προαιρετικό)
2. Φασματοσκοπική μηχανή σύντηξης (προαιρετικό)
3. Special Powder Making Machine for Spectrum (προαιρετικό)
4. Χωνευτήριο πλατίνας για τήξη δείγματος (προαιρετικό)
5. Ειδική πρέσα tablet για φασματόμετρο (προαιρετικό)
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Shifen Yuan
Τηλ.:: 8610 82921131,8613910983110
Φαξ: 86-10-82916893
